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在線客服 交變鹽霧試驗(yàn)是一種氣候類環(huán)境腐蝕試驗(yàn)，主要利用人工模擬鹽霧環(huán)境條件來(lái)評(píng)定金屬材料或產(chǎn)品的耐腐蝕性能，分為兩類：一類是人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)，一類是自然環(huán)境暴露試驗(yàn)。模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)是在其中人為制造鹽霧環(huán)境來(lái)考核產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕性能，是一種具有一定容積空間的試驗(yàn)設(shè)備-鹽霧試驗(yàn)箱。與自然環(huán)境相比，其鹽霧環(huán)境中氯化物的鹽濃度可高出一般自然環(huán)境幾倍或幾十倍，大大提高了腐蝕速度，大大縮短了對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)得出結(jié)果的時(shí)間。比如一個(gè)產(chǎn)品樣品在自然暴露環(huán)境下測(cè)試，可能需要一年才能被腐蝕，而在人工模擬鹽霧環(huán)境下測(cè)試，只需要24小時(shí)就能得到類似的結(jié)果。
腐蝕是由環(huán)境引起的腐蝕性物質(zhì)或其性質(zhì)的破壞或退化，大部分腐蝕發(fā)生在大氣環(huán)境中，大氣環(huán)境中含有氧氣、濕度、溫度變化、污染物等腐蝕成分和腐蝕因素。鹽霧腐蝕是一種常見且具破壞性的大氣腐蝕，這里的鹽霧其主要腐蝕成分是海洋中的氯鹽——氯化鈉，是指氯化物大氣，主要來(lái)源于海洋和內(nèi)陸鹽堿地區(qū)。鹽霧對(duì)金屬表面的腐蝕是由于所含的氯離子透過(guò)金屬表面的氧化層和保護(hù)層與金屬內(nèi)部發(fā)生電化學(xué)反應(yīng)造成的。因此人們需要通過(guò)交變鹽霧試驗(yàn)來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
交變鹽霧試驗(yàn)適用于耐受含鹽大氣的元件或設(shè)備，試驗(yàn)時(shí)候依據(jù)耐受程度選用相應(yīng)的嚴(yán)酷等級(jí)。
試驗(yàn)箱：
鹽霧箱、濕熱箱、標(biāo)準(zhǔn)大氣箱、干燥箱
試驗(yàn)方法1：
一個(gè)循環(huán)是7d。一個(gè)循環(huán)應(yīng)包括在35℃±2K條件下，用鹽溶液噴灑試驗(yàn)樣品2h,然后在40℃，相對(duì)濕度93％RH的濕熱條件下貯存6天22小時(shí)。循環(huán)次數(shù)為4個(gè)循環(huán)（28d）;
試驗(yàn)方法2：
一個(gè)循環(huán)是1d。一個(gè)循環(huán)應(yīng)包括在35℃±2K條件下，用鹽溶液噴灑試驗(yàn)樣品2h,然后在40℃，相對(duì)濕度93％RH的濕熱條件下貯存22小時(shí)。循環(huán)次數(shù)為3個(gè)循環(huán)（3d）;
試驗(yàn)方法3：
一個(gè)循環(huán)是7d。一個(gè)循環(huán)應(yīng)包括在35℃±2K條件下，用鹽溶液噴灑試驗(yàn)樣品2h,然后在40℃，相對(duì)濕度93％RH的濕熱條件下貯存22小時(shí)。這樣重復(fù)4次，然后試驗(yàn)樣品在23℃和相對(duì)濕度50％RH的標(biāo)準(zhǔn)大氣下貯存3d。循環(huán)次數(shù)為1個(gè)循環(huán)（7d）;
試驗(yàn)方法4：
按試驗(yàn)方法3規(guī)定的，所需循環(huán)次數(shù)為2次（14d)。
還有試驗(yàn)方法5、方法6、方法7、方法8，由于實(shí)際試驗(yàn)過(guò)程中不常用，在此省略。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.18-2021/IEC60068-2-52:2017《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧，交變（氯化鈉溶液）》
鹽霧循環(huán)試驗(yàn)除了顯示金屬材料腐蝕效果，還可以顯示某些金屬材料因吸收鹽而劣化的程度。噴鹽溶液的時(shí)間足以潤(rùn)濕整個(gè)試驗(yàn)樣品，還補(bǔ)充在試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大氣下貯存，可以有效的重現(xiàn)自然環(huán)境效應(yīng)。另外，考慮到金屬材料腐蝕的自然環(huán)境，中性或酸性鹽霧噴霧、濕熱和干燥條件也是循環(huán)腐蝕測(cè)試需要的考慮的重要因素。在其他條件間隔不同組合后，重復(fù)每個(gè)條件，以實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬材料的腐蝕并加速腐蝕。
電磁兼容EMC試驗(yàn)不通過(guò)，EMC整改方法
GB/T2423.18交變鹽霧腐蝕試驗(yàn)
GJB1032A-2020電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)主要針對(duì)印制電路板組件、電子組件、整機(jī)或系統(tǒng)進(jìn)行，對(duì)地面固定設(shè)備、移動(dòng)設(shè)備、船用設(shè)備、飛機(jī)用設(shè)備或其他設(shè)備在產(chǎn)品研制階段和批生產(chǎn)階段進(jìn)行環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。
環(huán)境應(yīng)力篩選是對(duì)產(chǎn)品施加規(guī)定的環(huán)境應(yīng)力，來(lái)發(fā)現(xiàn)和剔除制造過(guò)程中的不良零件、元器件和工藝缺陷等早期故障的一種工序或方法。
篩選產(chǎn)品的要求：
具有性能檢查和測(cè)試合格的控制證明；去除包裝物及減振裝置；有冷卻系統(tǒng)的產(chǎn)品，在不超過(guò)設(shè)計(jì)極限的前提下，應(yīng)關(guān)閉冷卻系統(tǒng)。
溫度循環(huán)篩選箱應(yīng)滿足下列要求：
1、應(yīng)具備足夠的高低溫工作范圍，平均溫變速率≥10℃/min;
2、篩選箱熱源的位置布置不應(yīng)使輻射熱直接到達(dá)篩選產(chǎn)品；
3、用于控制箱內(nèi)溫度的電熱偶或其他形式的溫度傳感器應(yīng)放置于篩選箱內(nèi)部的循環(huán)氣流中，并加以遮擋來(lái)防止輻射的影響；
4、高低溫循環(huán)的氣流應(yīng)適當(dāng)導(dǎo)引以使篩選產(chǎn)品周圍的溫度場(chǎng)均勻；
5、箱內(nèi)空氣溫度和濕度應(yīng)加以控制，使產(chǎn)品在篩選期間表面不出現(xiàn)凝露。
溫度循環(huán)篩選的條件：
1、高低溫極限值；
2、高低溫保持時(shí)間；
3、一次循環(huán)時(shí)間（一般為3h20min或4h）；
4、溫度變化速率（溫變率≥10℃/min）;
5、溫度循環(huán)次數(shù)（對(duì)于缺陷剔除一般不少于10次）。
隨機(jī)振動(dòng)篩選條件：
1、隨機(jī)振動(dòng)譜；
2、施振軸向的確定；
3、振動(dòng)時(shí)間（缺陷剔除階段一般為5min，無(wú)故障檢驗(yàn)階段為5min~15min,采用一個(gè)軸向或多個(gè)軸向振動(dòng)時(shí)候，一般不超過(guò)20min。）
環(huán)境應(yīng)力篩選的過(guò)程：
1、初始性能檢測(cè)—應(yīng)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)規(guī)范進(jìn)行外觀或性能檢測(cè)并記錄，進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)，測(cè)試時(shí)間一般為5min；
2、環(huán)境應(yīng)力篩選—分為兩類，一類是缺陷剔除階段10個(gè)循環(huán)（隨機(jī)振動(dòng)+溫度循環(huán)），一類是無(wú)故障檢驗(yàn)階段的10-20個(gè)循環(huán)的（隨機(jī)振動(dòng)+溫度循環(huán)）測(cè)試；
3、最后性能檢測(cè)—進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)，測(cè)試時(shí)間為5min~15min。
GJB 1032-1990 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法
GJB 2072-1994 維修性試驗(yàn)與評(píng)定
GJB 3947A-2009 軍用電子測(cè)試設(shè)備通用規(guī)范
GJBZ 108A-2006 電子設(shè)備非工作狀態(tài)可靠性預(yù)計(jì)手冊(cè)
GJBZ 299C-2006 電子設(shè)備可靠性預(yù)計(jì)手冊(cè)
GJBZ 768A-1998 故障樹分析指南
GJBZ 1391-2006 故障模式、影響及危害性分析指南
IEC 61709-2011 電子元件 可靠性 故障率的參考條件以及轉(zhuǎn)換用應(yīng)力模型(Electric components. Reliability. Reference conditions for failure rates and stress models for conversion)
IEC 62059-41-2006 電能測(cè)量設(shè)備 可靠性 第41部分:可靠性預(yù)測(cè)(Electricity metering equipment. Dependability. Part 41:Reliability prediction)
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